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MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機

MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機

  • 型號:MarSurf XCR 20
  • 品牌:馬爾德國Mahr
  • 產地:德國
遵循標準:
簡介:
粗糙度儀又叫表面粗糙度儀、表面光潔度儀、表面粗糙度檢測儀、粗糙度測量儀、粗糙度計、粗糙度測試儀等多種名稱。它具有測量精度高、測量范圍寬、操作簡便、便于攜帶、工作穩定等特點,可以廣泛應用于各種金屬與非金...本MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機的特點:MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機是輪廓和粗糙度測量的理想選擇。一個測量站適合兩種測量任務, 包含 PCV / CD 120 驅動單元和 GD 25 粗糙度驅動單元和 MFW 250 B 測頭系統。兩個驅動單元均使用聯合支架安裝在測量立柱。
硬度測試
金相制樣(切割,磨拋,鑲嵌)
橡膠制品測試
顯微鏡
環境試驗箱
拉力試驗機
摩擦磨損試驗機
量具
三坐標測量
進口打標機
紅外熱像儀
表面光學檢測
厚度測量
粗糙度儀
物性檢測
探傷儀
長度測量
鋼丸檢測
人體測溫設備

MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機產品介紹

 組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站 - MarSurf XCR 20

 

描述

組合“輪廓和粗糙度“測量任務使用的測量站 - MarSurf XCR 20MarSurf XCR 20 組合測量站是輪廓和粗糙度測量的理想選擇。

此測量站包含 PCV / CD 120 驅動單元和 GD 25 粗糙度驅動單元和 MFW 250 B 測頭系統。

兩個驅動單元均使用聯合支架安裝在測量立柱 (ST 500/ST 750)上,可用于粗糙度 (GD 25) 或輪廓(PCV 或 CD 120)測量。

結合 XCR 20 測量和評定軟件,此測量站配置可用作通用型測量站測量粗糙度深度和輪廓。

主要優勢有:

一個測量站適合兩種測量任務

* 使用經過檢驗和測試的 PCV 200 輪廓驅動和測頭系統(如上文所述)。

* 使用高精度 GD 25 和 MFW 250 B 測頭和高分辨率測量系統測量粗糙度

另外,此聯合測量站還可改裝為 XC 20 配置。換句話說,如有需要,您可使用 PCV / CD 120 驅動單元方便地將 XC 20 測量站升級為聯合測量站。只需添加 GD 25 驅動單元和聯合支架。軟件需要從 XC 20 升級為 XCR 20。


MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機技術參數

接觸速度(Z方向)

0.1-1mm/s

測桿長度

175mm,350mm

測量速度(文本)

0.2mm/s至4mm/s

針尖半徑

25

掃描長度末尾(X方向)

200mm

分辨率

Z方向,相對探針針頭:

0.38μm(350mm測桿)/0.19μm(175mm測桿)

Z方向,相對測量系統:0.04μm

掃描長度開始(X方向)

0.2mm

取樣角

在平滑表面上,取決于偏差:后緣高至88°,前緣高至77°

定位速度(文本)

X方向返回速度:0.2至8mm/s

Z方向:0.2至10mm/s

導塊偏差

<1μm(200mm以上)

測量原則

探針法

輸入

R測頭,MFW250

光學測頭Focodyn*、LS 1*、LS 10*

(*僅結合PGK或GD 120 CNC驅動裝置)

測量范圍mm

(in Z)50mm

MFW 250:±25μm,±250μm,(最高±750μm);±1000μm,±10000μm(最高±30000μm)

掃描長度(文本)

自動;0.56mm;1.75mm;5.6mm;17.5mm,56mm,

(.022/.070/.224/.700/2.240英寸)

測量至擋塊,可變

采樣長度數量符合ISO/JIS

1至50(默認:5)

測量力(N)

1mN至120mN左右(可在MarSurf XC 20中設置)


MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機標準配置

MarSurf XCR 20

包含 Midrange 標準控制單元、 XCR 20 軟件、 Mahr 許可密鑰

MarWin PC*

TFT 24“ 顯示器

MCP 21 手動控制面板

GD 25 驅動單元

MFW 250 B 測頭系統套件

PCV 200 驅動單元

標準輪廓校準套件

ST-500 測量立柱

GD 25 和 PCV 聯合支架

CT 300 XY 工作臺

MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機可選配件

PPS 平口虎鉗

MarSurf XCR 20輪廓儀和粗糙度儀測量一體機相關視頻

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